DEUTSCHENORM August 2006 DIN DINENISO14880-3 ICS 31.260 Optik und Photonik- Mikrolinsenarrays - Teil 3: Prufverfahren fur optische Eigenschaften auBer Wellenfrontaberrationen(iS0 14880-3:2006); DeutscheFassungENIsO14880-3:2006 Optics and photonics - Microlens arrays - Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations (ISO 14880-3:2006); Germanversion EN ISO14880-3:2006 Optique et photonique -- Réseaux de microlentilles Partie3:Methodes d'essaipour lesproprietes optiquesautres que les aberrations dufront d'onde (ISO 14880-3:2006); VersionallemandeENISO14880-3:2006 - Stand 2016-11 Gesamtumfang 20 Seiten BEST BeuthStandardsCollection Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)imDIN DIN Deutsches Institut fur Normung e.V. - Jede Art der Vervielfaltigung, auch auszugsweise 9 Preisgruppe 12 ur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fur Normung e.V., Berlin, gestattet. www.din.de Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.de 9703277 DINENISO14880-3:2006-08 Nationales Vorwort Deutschland) aus der Arbeit des ISO/TC 172/SC 9,Elektro-optische Systeme" (Sekretariat: DIN, Deutschland) ubernommen. Das zustandige deutsche Gremium ist der NA 027-01-21 AA .Mikrooptik und integrierte eOptik"im NormenausschussFeinmechanikundOptik(NAFuO) Fur die im Abschnitt 2 zitierten Internationalen Normen wird im Folgenden auf die entsprechenden Deutschen Normen hingewiesen: ISO14880-1 siehe DIN EN ISO 14880-1 ISO 10110-5 siehe DIN ISO 10110-5 Nationaler Anhang NA (informativ) Literaturhinweise DIN ENISO14880-1,Mikrolinsenarrays—Teil 1: Begriffe DiNIsO10110-5,Optik undoptischeInstrumente-ErstellungvonZeichnungenfuroptischeElemente und Systeme—Teil 5:Passfehler - Stand 2016-11 BEST BeuthStandardsCollection 2 EN ISO 14880-3 EUROPAISCHENORM EUROPEANSTANDARD NORMEEUROPEENNE Juni 2006 ICS31.260 Deutsche Fassung Optik und Photonik Mikrolinsenarrays Teil 3: Prufverfahren fur optische Eigenschaften auBer Wellenfrontaberrationen (ISO 14880-3:2006) Optics and photonics - Optique et photonique ‘Microlens arrays Reseaux de microlentlles Part 3: Test methods for optical properties other than Partie 3: Methodes d'essai pour les proprietes optiques wavefront aberrations autres que les aberrations du front d'onde (ISO 14880-3:2006) (ISO 14880-3:2006) Diese Europaische Norm wurde vom CEN am 3.Mai 2006 angenommen. Die CEN-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschaftsordnung zu erfullen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europaischen Norm ohne jede Anderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Management-Zentrum oder bei jedem CEN-Mitglied auf Anfrage erhaltlich. Diese Europaische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzosisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache die von einem CEN-Mitglied in eigener Verantwortung durch Ubersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Management-Zentrum mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CEN-Mitglieder sind die nationalen Normungsinstitute von Belgien, Danemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, Osterreich, Polen,. Portugal, Rumanien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Konigreich und Zypern. cen - Stand 2016-11 EUROPAISCHES KOMITEE FUR NORMUNG EUROPEAN COMMITTEE FOR STANDARDIZATION COMITE EUROPEEN DE NORMALISATION BEST BeuthStandardsCollection Management-Zentrum: rue de Stassart, 36 B-1050 Brussel @2006CEN Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Ref.Nr.EN ISO 14880-3:2006 D Verfahren, sind weltweit den nationalen Mitgliedern von CEN vorbehalten. ENISO14880-3:2006 (D) Inhalt Seite Vorwort .3 Einleitung. .4 1 Anwendungsbereich ..5 2 Normative Verwe
ISO 14880-3 2006 Optics and photonics Microlens arrays Part 3 Test methods for optical properties other than wavefront aberrations
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